加速环境应力试验在COG-LCD中的应用

• 作者: 吴永俊 詹前贤
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 液晶显示器件 加速环境应力试验 电极腐蚀 污染
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.9
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.05.013

摘要

液晶显示器件(LCD)的应用范围不断扩大,尤其是在高档电子、通信领域的应用已成为流行的趋势.基于缩小器件体积及降低器件成本的需要,COG(CHIP ON GLASS)、COF(CHIP ON FILM)模块工艺应运而生.通过对COG-LCD进行未封硅胶时的高温、高湿加速环境应力试验,以及对试验后失效样品的分析,找出造成部分产品使用过程可靠性下降的根本原因,并通过工艺改进提高产品的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴永俊		38	190	6.0	12.0
2	詹前贤		12	41	5.0	6.0