HALT与HASS技术原理概述

• 作者: 王世涛 邓林
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 高加速寿命试验 高加速应力筛选 故障模式
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 26-29
• 页数: 4页
• 分类号: TB114
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.05.007

摘要

面对激烈的市场竞争以及顾客对高质量、低成本产品的需要,如何使产品尽快、成熟地完成设计,从而以高质量产品快速占领市场,对产品的设计制造企业来讲显得尤为重要.而要达到这些目的,就必须使用一些高效率的工具来辅助完成产品设计,以保证顾客使用到可靠的和高质量的产品.HALT与HASS技术正是这一过程有力的支持工具.在产品设计中,使用HALT与HASS技术,有助于设计出成熟的产品,达到较高的费效比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓林	中国电子科技集团公司第二十九研究所	8	30	3.0	5.0
2	王世涛	中国电子科技集团公司第二十九研究所	2	23	2.0	2.0