基于红外热像技术的星载TWTA可靠性检测及故障诊断技术研究

• 作者: 张锐 李振民 阴和俊
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 星载TWTA 红外热像技术 可靠性检测模型 故障诊断
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 107-112
• 页数: 6页
• 分类号: TN2.6
• 字数: 5518字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2004.02.007

摘要

针对星载TWTA(Traveuling Wave Tube Amplifier)的PCB(Printed Circuit Board))可靠性检测及故障诊断问题引入了非接触式的红外热像检测方法,介绍了其应用的理论依据.然后,应用数理统计理论和矩阵范数理论提出了一个基于红外热像技术的PCB可靠性检测模型.并在此基础上给出了一个基于事例库的故障诊断方案.最后,介绍了该可靠性检测模型及故障诊断方案在星载TWTA可靠性检测及故障诊断中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阴和俊	中国科学院电子学研究所	40	438	10.0	20.0
2	张锐	中国科学院电子学研究所	61	584	15.0	22.0
3	李振民	中国科学院电子学研究所	4	68	2.0	4.0