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摘要:
制备分析样品的方法:将欲被分析的杂质从磷酸中单独沉积下来并与磷酸分离;分析杂质的方法:将杂质从磷酸中单独沉积下来并与磷酸分离;再对分离的物质进行分析;制备高纯磷酸的方法:从待净化的磷酸中单独沉积出杂质并进行分离;制备半导体元件的方法:用磷酸作处理液,该磷酸的杂质含量(由所含的放射性元素Pb,Bi和Po的浓度确定),不大于10^-3Bq/ml(Bq,贝克勒尔,放射性单位)。
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 生产半导体元件用专用级高纯磷酸的制备
来源期刊 磷酸盐工业 学科 工学
关键词 半导体 磷酸 制备方法 定量分析法 PH值
年,卷(期) 2004,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 29-34
页数 6页 分类号 TQ126.35
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节点文献
半导体
磷酸
制备方法
定量分析法
PH值
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期刊影响力
磷酸盐工业
季刊
成都市九眼桥星桥街112号
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