取向硅钢晶粒取向的不均匀分布及其检测

• 作者: 冯惠平 刘恒三 毛卫民 陈冷
• 来源期刊: 物理测试
• 学科: 工学
• 关键词: 取向硅钢 晶粒组织 织构检测 不均匀性
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 19-21,24
• 页数: 4页
• 分类号: TG11
• 字数: 1205字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0777.2004.03.006

摘要

利用X射线衍射和背散射电子衍射检测了取向硅钢板表层和中心部位的宏观织构和微观晶粒取向分布,观察了相应的晶粒组织.结果表明,二次再结晶不彻底的成品钢板的表面会残留非{110}<001>取向的小晶粒,并影响钢板的软磁性能.取向硅钢板表层的晶粒取向分布能够在一定程度上反映出钢板的质量,因此可以借助X射线表面无损检测技术发展取向硅钢织构的工业在线检测技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛卫民	北京科技大学材料学系	351	4505	35.0	51.0
2	冯惠平	北京科技大学材料学系	37	535	12.0	22.0
3	陈冷	北京科技大学材料学系	52	225	9.0	12.0
4	刘恒三	北京科技大学材料学系	4	20	3.0	4.0