比率采样法在镀层厚度测量中的应用

• 作者: 俞阿龙
• 来源期刊: 工业仪表与自动化装置
• 关键词: 比率采样 厚度测量 镀层 线性化 V/F转换 单片机
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 分类号: TP930.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0682.2004.02.009

摘要

该文介绍比率采样法在镀层厚度测量中的应用,详细叙述了测量系统的组成原理和主要单元电路的设计.所设计的测量系统适合于对导磁工件上镀有非导磁材料的镀层厚度的测量.通过采用比率采样技术,在保持元件性能不变的前提下,可提高测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞阿龙	淮阴师范学院物理系	73	489	12.0	18.0