基于根轨迹β-广义预测控制性能分析

• 作者: 孙清林 王繁珍 袁著祉 陈增强 齐国元
• 来源期刊: 工业仪表与自动化装置
• 关键词: β-广义预测控制 根轨迹 稳定性
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 科研论坛
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: TP13
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0682.2004.04.001

摘要

β-广义预测控制(β-GPC)是指在GPC增量控制律前引入增益β,在一定范围内提高系统的稳定裕度和鲁棒性.该文从系统闭环特征方程出发得到以β为增益的开环传递函数,利用参数根轨迹分析闭环系统的特性,给出了使闭环系统稳定的β的取值范围,并确定了基于目标要求的最佳β值,能够较大程度地提高闭环系统的稳定性和动态控制效果.最后,通过仿真进一步证明了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈增强	南开大学信息技术科学学院	345	4297	35.0	48.0
2	袁著祉	南开大学信息技术科学学院	208	3390	33.0	46.0
3	齐国元	南开大学信息技术科学学院	19	251	8.0	15.0
7	王繁珍	南开大学信息技术科学学院	9	179	7.0	9.0
8	孙清林	南开大学信息技术科学学院	1	6	1.0	1.0