高速逻辑分析仪探测

• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 高速逻辑分析仪 负荷 探测
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 产品解决方案
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TH7
• 字数: 3773字
• 语种: 中文

摘要

本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题,讨论了探头的负荷模型及探测位置的影响.最后,本文讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术短线探测和阻尼电阻器探测.