逻辑分析仪在数字电路测试中的触发选择

• 作者: 张治 程度 耿春萍
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 数据域测试 触发字 序列触发 毛刺触发 延迟触发
• 年，卷（期）: 2007,（13）
• 所属期刊栏目: 数控技术
• 页码范围: 160-162,166
• 页数: 4页
• 分类号: TP23
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.13.054

摘要

在数字电路系统的调试、分析过程中,逻辑分析仪发挥着极为重要的作用.能否合理选择测试点及设置触发条件,直接关系到所获得的测试数据的有效性,影响对问题的分析和解决.本文研究和探讨了当逻辑分析仪作为逻辑状态分析仪在分析软件的运行时设置触发字和触发序列的方法以及作为逻辑定时分析仪在分析电路信号时设置毛刺触发和触发滤波的方法,这些方法的灵活运用将充分发挥逻辑分析仪在数据域测试中的功能,提高数字系统的研制和测试效率.