射线底片中的缺陷定量技术

• 作者: 孙朝明 徐彦霖 王增勇
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 射线底片 定量技术 缺陷 数字图像处理技术 射线检测 发生变化 定量分析 数字化
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 128-129
• 页数: 2页
• 分类号: TP311.52

摘要

底片是射线检测的评判依据，但是容易受到环境的影响而发生变化（发霉、污损）；生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化，可以实现无失真存储，稳定性高，更便于交流和分析，利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。