介孔氧化硅的分形特征

• 作者: 吴东 吴忠华 吴白玉 孙予罕 巩雁军 李志宏 洪新国
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 化学
• 关键词: 介孔氧化硅 分形 小角X射线散射
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: O613.72|O648.11
• 字数: 2557字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2004.01.003

摘要

介孔氧化硅广泛应用于催化、吸附、分离中.将介孔氧化硅进行有机官能化则可改善其孔道表面性能.应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)研究了纯介孔氧化硅和有机官能化介孔氧化硅的分形特征,结果表明它们均具有两种分形结构,即表面分形和孔分形.同时探讨了分形维数随样品制备条件的变化规律.