LED寿命试验系统的建立

• 作者: 梁奋 蔡伟智 陈晓玲
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 发光二极管 芯片 寿命试验
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 44-45,79
• 页数: 3页
• 分类号: TN306
• 字数: 2822字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2004.12.024

摘要

介绍了LED寿命试验系统建立过程,提出了寿命试验条件,采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大.完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡伟智		9	38	5.0	5.0
2	陈晓玲		1	7	1.0	1.0
3	梁奋		1	7	1.0	1.0