软件缺陷混沌分形生长与机理分析

• 作者: 张凯 熊前兴
• 来源期刊: 武汉理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 混沌分形 软件缺陷 分形生长 耗散结构
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 80-82
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.52
• 字数: 2732字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4431.2004.01.024

摘要

从软件开发过程的角度分析了软件缺陷生长的过程,以及软件缺陷生长机理.2个实验和理论分析都说明,软件缺陷生长过程是一个伴随软件增长(开发)而受限生长的过程.它是内部增长力量与外部环境条件限制正负反馈作用的结果.实验证明如果采用一些方法对软件开发过程进行控制,那么,软件缺陷的生长也能得到控制,且效果非常明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊前兴	武汉理工大学计算机学院	101	982	17.0	27.0
2	张凯	武汉理工大学计算机学院	50	197	8.0	12.0