基于混沌免疫谱聚类的软件缺陷预测

• 作者: 宋国军 宋洪军 常瑞花 慕晓冬
• 来源期刊: 高技术通讯
• 关键词: 无标识数据 免疫 谱聚类 混沌 软件缺陷预测
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 计算机与通信技术
• 页码范围: 1219-1224
• 页数: 6页
• 字数: 5089字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2012.12.001

摘要

为提高无标识软件缺陷预测的准确性,提出一种谱聚类与混沌免疫相结合的软件缺陷预测方法.该方法首先将谱聚类算法引入到软件缺陷预测领域中,然后针对谱聚类算法中K-Means局部收敛的缺点,用一种混沌免疫聚类算法来替换K-Means算法.同时,在免疫克隆选择算法的框架下,借鉴混沌和免疫理论,设计免疫克隆聚类适应度函数计算方法,并给出分层混沌变异算子,以实现种群多样性的增加,促进无标识软件缺陷数据预测精度的提高.在Iris和3组商业软件模块数据集上进行了仿真实验,实验结果验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常瑞花	武警工程大学科研部	10	13	3.0	3.0