面向软件缺陷个数预测的混合式特征选择方法

• 作者: 余啸 刘瑞奇 马传香 马子逸
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 软件缺陷个数预测 特征选择 谱聚类 包裹式特征选择
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 软件技术研究
• 页码范围: 487-492,502
• 页数: 7页
• 分类号: TP311.53
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2018.02.036

摘要

针对软件缺陷数据集中不相关特征和冗余特征会降低软件缺陷个数预测模型的性能的问题,提出了一种面向软件缺陷个数预测的混合式特征选择方法——HFSNFP.首先,利用ReliefF算法计算每个特征与缺陷个数之间的相关性,选出相关性最高的m个特征;然后,基于特征之间的关联性利用谱聚类对这m个特征进行聚类;最后,利用基于包裹式特征选择思想从每个簇中依次挑选最相关的特征形成最终的特征子集.实验结果表明,相比于已有的五种过滤式特征选择方法,HFSNFP方法在提高预测率的同时降低了误报率,且G-measure与RMSE度量值更佳;相比于已有的两种包裹式特征选择方法,HFSNFP方法在保证缺陷个数预测性能的同时可以显著降低特征选择的时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马传香	湖北大学计算机与信息工程学院	22	88	6.0	8.0
3	马子逸	湖北大学计算机与信息工程学院	1	1	1.0	1.0
6	刘瑞奇	武汉大学国际软件学院	1	1	1.0	1.0
7	余啸	武汉大学计算机学院软件工程国家重点实验室	2	8	1.0	2.0