面向软件缺陷数据的负关联规则挖掘方法

• 作者: 万琳 范秋灵
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 软件缺陷 数据矩阵 负关联规则 遗传算法 适应度函数
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 50-55
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

面向软件缺陷数据的关联规则挖掘的意义在于探寻软件缺陷数据之间的关联关系，为软件开发、测试人员提供一定的指导作用。负关联规则阐述的是不同项目之间的相互排斥关系，具有非常重要的意义。本文通过引入数据矩阵的概念及遗传算法的思想，提出了一种新颖的负关联规则挖掘方法GM NAR ，并通过实验验证了该方法的有效性和高效性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	万琳	装甲兵工程学院信息工程系	26	160	8.0	11.0
2	范秋灵	装甲兵工程学院信息工程系	5	20	3.0	4.0