X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析

• 作者: 杨冬 虞孝麒 龚达涛
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: ICF靶 X射线法 辐向平均法 二阶微分
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 1553-1557
• 页数: 5页
• 分类号: TP274.2
• 字数: 3119字
• 语种: 中文

摘要

在ICF靶丸参数测量中,采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像,将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像.基于该数字化图像信息,编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数.采用辐向平均法标定出靶中心,采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置,计算精度约为0.2pixels.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞孝麒	中国科学技术大学近代物理系	58	192	8.0	10.0
2	龚达涛	中国科学技术大学近代物理系	7	21	2.0	4.0
3	杨冬	中国科学技术大学近代物理系	7	29	2.0	5.0