光学元件损伤在线检测装置及实验研究

• 作者: 任冰强 张维新 杜龙龙 王树森 赵永凯 路敦武 韩广礼 黄惠杰
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 光学元件 光学损伤检测 暗场成像技术
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 465-468
• 页数: 4页
• 分类号: TH247
• 字数: 2046字
• 语种: 中文

摘要

利用暗场成像原理,研制成功一套应用于大型激光装置的光学元件损伤在线检测装置,并在多程放大系统上进行了实验研究.与传统的检测手段相比,该检测装置可以实现对光学系统的在线检测,并可对损伤点的图像进行分析处理,最后提出通过减小像差和扩大检测范围的方法来改进该装置的检测效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄惠杰	中国科学院上海光学精密机械研究所	69	544	13.0	23.0
2	赵永凯	中国科学院上海光学精密机械研究所	16	246	7.0	15.0
3	任冰强	中国科学院上海光学精密机械研究所	10	266	7.0	10.0
4	杜龙龙	中国科学院上海光学精密机械研究所	7	197	6.0	7.0
5	王树森	中国科学院上海光学精密机械研究所	5	39	1.0	5.0
6	张维新	中国科学院上海光学精密机械研究所	2	39	1.0	2.0
7	韩广礼	中国科学院上海光学精密机械研究所	1	39	1.0	1.0
8	路敦武		1	39	1.0	1.0