数字专用集成电路检测系统的设计

• 作者: 祖静 裴东兴 黄庆彩
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 专用集成电路 存储测试 测试系统
• 年，卷（期）: 2004,（z2）
• 所属期刊栏目: 计算机辅助测试
• 页码范围: 47-50
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 2090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.z2.014

摘要

数字专用集成电路特性复杂,功能特殊,用通用的测试方法难以全面检测其静、动态特性.针对这一问题,本文结合一个具体的存储测试专用集成电路设计了一个专用检测系统,介绍了检测系统的原理并给出了检测系统的硬件和软件设计方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖静	华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室	52	622	12.0	24.0
2	裴东兴	华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室	22	241	7.0	15.0
3	黄庆彩	华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室	4	35	1.0	4.0