基于SOC中处理器核的串扰故障激励检测

• 作者: 张金林 沈绪榜 陈朝阳
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 串扰激励模型 软件自测试 测试结构
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 108-110
• 页数: 3页
• 分类号: TP306
• 字数: 1579字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2004.04.037

摘要

有效地给出了一种新的基于软件自测试的串扰故障渐进式激励检测模型实现,这种基于软件自测试的检测方案是利用SOC中的处理器核的计算和处理能力来产生激励矢量,对串扰故障进行激励并对测试响应进行分析.为了提高测试速度,还提出了一种对IP核透明化处理的测试结构,该测试结构在增加较少额外硬件开销的前提下,极大地减少了测试时间.同时,这种改进的测试结构也满足串扰故障激励检测的实时、并行的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜	华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室	152	962	15.0	25.0
5	陈朝阳	华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室	43	354	11.0	16.0
6	张金林	华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室	6	66	3.0	6.0