TSVs串扰故障分组测试和诊断策略

• 作者: 任福继 刘军 王秀云
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: TSVs 串扰 集成电路 成品率 扫描链
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 页码范围: 30-36
• 页数: 7页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文

摘要

TSVs串扰故障的测试和诊断对提高集成电路成品率有重要影响.为了减少TSVs测试和诊断时间,并且减少测试电路的面积开销,提出在信号接收端重用扫描单元的测试架构对TSVs串扰故障进行分组测试和诊断的新方案.该方案首先使用提出的TSVs分组算法,根据TSVs之间串扰影响距离,应用邻接矩阵求极大独立集对TSVs进行快速分组,使得每组内的TSVs不会发生串扰故障,并且最大化同组中TSVs的数量.分组完成后,使用提出的测试架构对同组内的TSVs进行并行测试,并且根据TSVs的测试响应,可以进一步诊断故障TSVs.实验结果表明,所提测试方案有效地减少了测试和诊断时间,并且减少了面积开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任福继	合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室	25	106	7.0	9.0
3	刘军	合肥工业大学计算机与信息学院	29	146	7.0	10.0
9	王秀云	合肥工业大学计算机与信息学院	3	0	0.0	0.0