多攻击线引起的串扰时延故障的TPG

• 作者: 尚玉玲 梁晓琳 颜学龙
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 时延故障 多攻击线 自动测试矢量生成 FAN算法
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 页码范围: 153-156
• 页数: 4页
• 分类号: TP302
• 语种: 中文

摘要

探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时廷测试.利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色,提高了测试生成算法的效率.实验结果表明,沿着任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活,并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试矢量生成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程学院	89	330	9.0	12.0
2	梁晓琳	桂林电子科技大学电子工程学院	7	25	3.0	5.0