考虑串扰影响的时延测试

• 作者: 宫云战 张月 李华伟 李晓维
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 串扰 时延测试 波形敏化 临界通路
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.11.021

摘要

超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法.该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率.实验表明,以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内,对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算技术研究所	55	595	14.0	22.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
3	张月	中国科学院计算技术研究所	6	13	2.0	3.0
4	宫云战	中国科学院计算技术研究所	4	81	4.0	4.0