两相邻耦合RC互连的串扰效应及其抑制

• 作者: 曹占杰 李学东 赵建娇
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 串扰 信号完整性 互连 集成电路
• 年，卷（期）: 2006,（21）
• 所属期刊栏目: 工控技术
• 页码范围: 142-144
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2006.21.051

摘要

随着微电子技术的进步,集成电路的特征尺寸逐步缩小,IC设计已经向着深亚微米甚至超深亚微米设计发展,一系列由于互连线引起的信号完整性问题需要设计者更多的考虑,互连线串扰已经成为影响IC设计成功与否的一个重要因素.针对串扰这一问题本文讨论了串扰对于电路的影响,分析了深亚微米集成电路设计中对两相邻耦合RC互连串扰的成因,介绍了互连线R,C参数的提取.以反相器驱动源和客性负载为例,建立了两相邻等长平行互连线的10阶互连模型,并且针对该模型,利用Cadence软件进行仿真,分析了引起串扰的因素.在此基础上,最后给出了有效抑制串扰的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹占杰		8	32	4.0	5.0
2	赵建娇		12	36	4.0	5.0
3	李学东		4	3	1.0	1.0