考虑工艺波动的两相邻耦合RC互连串扰噪声估计

• 作者: 杨杨 杨银堂 柴常春 董刚
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 工艺波动 RC互连 串扰噪声 统计模型
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 1082-1087,1131
• 分类号: TN405.97
• 字数: 4180字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2010.06.018

摘要

基于6节点耦合互连串扰噪声电路模型,提出了一种新的考虑工艺波动的统计互连串扰噪声分析方法,在给定互连参数波动范围条件下,推导出了耦合互连统计串扰噪声的均值和标准差的解析表达式.实验结果表明,与在互连工艺波动研究中广泛采用的蒙特卡罗方法相比,新方法在确保计算精度的前提下大大缩短了计算时间,且采用新方法计算得到的RC互连串扰噪声均值误差低于2.36%,而标准差误差则低于7.23%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	420	2932	23.0	32.0
2	董刚	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	36	121	7.0	9.0
3	柴常春	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	80	592	15.0	19.0
4	杨杨	西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	4	28	2.0	4.0