VLSI设计中互连耦合噪声的估计

• 作者: 李跃进 杨银堂 柴常春 董刚
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 互连耦合噪声 主极点近似 灵敏度
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 页码范围: 276-279,299
• 页数: 5页
• 分类号: TN405.97
• 字数: 2257字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2005.02.026

摘要

随着互连尺寸及其间距的减小,由电容引起的耦合效应已成为影响VLSI给出了耦合噪声的时域解析表达式,讨论了影响峰值噪声电压的因素.与已有的方法相比, 模型得到了简化,而精度并未损失,它可以广泛应用于考虑耦合效应的版图优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学微电子研究所	420	2932	23.0	32.0
2	李跃进	西安电子科技大学微电子研究所	70	432	11.0	17.0
3	董刚	西安电子科技大学微电子研究所	36	121	7.0	9.0
4	柴常春	西安电子科技大学微电子研究所	80	592	15.0	19.0