一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上可调试系统

• 作者: 张伟 张闯 李兆麟 汪东升
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式微处理器 片上可调试系统 JTAG
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 1-4,51
• 页数: 5页
• 分类号: TP332
• 字数: 4309字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2004.12.001

摘要

文章提出了一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上的可调试系统.该系统在JTAG工业标准的基础上,能够以较少的硬件开销支持指令/数据断点设置、单步执行、寄存器内容查看和设置、内存内容查看和设置、在线编程以及微处理器运行现场设置等调试功能.文章首先介绍了嵌入式微处理器可调试设计的原理,其次介绍了嵌入式微处理器的调试系统设计,最后给出调试实例分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张伟	清华大学计算机系高性能研究所	180	2989	27.0	49.0
2	汪东升	清华大学计算机系高性能研究所	74	1037	18.0	29.0
3	李兆麟	清华大学计算机系高性能研究所	8	92	4.0	8.0
4	张闯		1	49	1.0	1.0