基于JTAG标准的处理器片上调试的分析和实现

• 作者: 侯朝焕 华斯亮 张铁军 金辉
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: JTAG 片上调试 IEEE1149.1 SuperV2
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 116-119,122
• 页数: 5页
• 分类号: TN7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.06.034

摘要

介绍了一种基于IEEE1149.1标准的嵌入式处理器片上调试的方法,并以一款DSP处理器SuperV2为研究对象,通过扩充JTAG测试访问端口和指令,并在处理器内增加和修改支持调试功能的逻辑,实现了断点设置、外部调试请求和单步执行的调试功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯朝焕	中国科学院声学研究所	156	1085	18.0	25.0
2	张铁军	中国科学院声学研究所	52	240	9.0	12.0