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一种基于JTAG接口的片上调试与性能分析方法
一种基于JTAG接口的片上调试与性能分析方法
作者:
侯朝焕
张铁军
李泉泉
王琪
高瑛珂
原文服务方:
微电子学与计算机
JTAG
片上调试
性能分析
复用
SuperV处理器
摘要:
介绍了一种复用JTAG标准接口来实现处理器片上调试和性能分析的方法.以SuperV DSP处理器为研究对象,通过设计调试和性能分析模块以及相应指令,实现了运行控制,断点设置等调试功能以及统计执行周期数,Cache缺失率等性能分析数据的功能,极大地方便软件开发和应用程序优化,同时对处理器性能和功耗影响甚微.
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JTAG
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文献信息
篇名
一种基于JTAG接口的片上调试与性能分析方法
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
JTAG
片上调试
性能分析
复用
SuperV处理器
年,卷(期)
2012,(7)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
68-71
页数
分类号
TN7
字数
语种
中文
DOI
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作者信息
序号
姓名
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1
侯朝焕
中国科学院声学研究所
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18.0
25.0
2
张铁军
中国科学院声学研究所
52
240
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研究主题发展历程
节点文献
JTAG
片上调试
性能分析
复用
SuperV处理器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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