原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
提出了一种处理器片上调试系统.使用科学的设计方法学完成了硬件与软件部分的设计,采用优化策略改进了硬件部分,得到了测试覆盖率高、稳定性较高、实时性较好的可调试SOC.软件部分通过层次化设计,连接硬件和UI,具有一定的价值.
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文献信息
篇名 一种基于JTAG的软硬件协同SOC调试接口
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 JTAG 软硬件协同 全寄存器长链 无缝切换 长短链结合
年,卷(期) 2007,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 34-37
页数 4页 分类号 TN4
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.11.010
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研究主题发展历程
节点文献
JTAG
软硬件协同
全寄存器长链
无缝切换
长短链结合
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
相关基金
国家高技术研究发展计划(863计划)
英文译名:The National High Technology Research and Development Program of China
官方网址:http://www.863.org.cn
项目类型:重点项目
学科类型:信息技术
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