基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法

• 作者: 侯朝焕 张铁军 邵洋 金辉
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 可重定向 IEEE 1149.1 片上调试 JTAG
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 页码范围: 183-186
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.07.053

摘要

介绍了一种基于IEEE1149.1标准的可重定向的调试方法,详细地分析了一种嵌入武调试模块的内部结构、工作原理、实现过程以及它给处理器核带来的代价,该模块在RTL级只需较少的修改即可集成在多种微处理器核上,完成片上调试的功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯朝焕	中国科学院声学研究所	156	1085	18.0	25.0
2	张铁军	中国科学院声学研究所	52	240	9.0	12.0