原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
IEEE1149.7标准相对于IEEE1149.1标准新增了很多测试与调试的功能,解决了现今复杂度高的芯片和系统无法测试的问题.在深入地研究IEEE1149.1和IEEE1149.7两种标准的基础上,利用自上而下的设计方法完成了由IEEE1149.1信号变为IEEE1149.7信号转换器的设计,在QuartusⅡ平台中通过Verilog语言实现,将设计应用在FPGA中,并用QuartusⅡ中嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ采集FPGA的输出信号.输出结果表明所设计的方案可以将IEEE1149.1信号转化为IEEE1149.7信号,可用于IEEE1149.7的待测系统进行测试与调试.
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基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计
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文献信息
篇名 基于IEEE 1149.1至IEEE 1149.7转换器的研究与实现
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 IEEE1149.7 转移器 测试与调试
年,卷(期) 2016,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 133-136,141
页数 5页 分类号 TN4
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 颜学龙 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 89 330 9.0 12.0
3 陈寿宏 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 37 107 5.0 8.0
9 王洋冰 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 2 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
IEEE1149.7
转移器
测试与调试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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