IEEE 1149．7标准两线星型扫描格式研究

• 作者: 杨轲 颜学龙
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: IEEE 1149 .7标准 两线星型扫描 M scan Oscan
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 页码范围: 147-150
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

针对目前现代测试系统集成度越来越高，IEEE 1149．7标准提出了两线星型扫描拓扑的测试方法以满足需要较少的引脚来实现边界扫描的现状．以IEEE 1149．7标准为依据，在深入研究该标准的基础上，利用Quartus II仿真开发平台设计了基于该标准的两线星型扫描控制器，并进行了仿真验证．结果表明测试控制器能够产生符合标准要求的M scan扫描格式及Oscan扫描格式两线星型扫描测试信号．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	杨轲	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	10	1.0	1.0