原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
为解决复杂芯片的测试与调试问题,提出支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE 1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的基础上,利用上位机进行软件编程,通过Quartus Ⅱ平台进行IP核的开发,成功设计出了支持IEEE 1149.7标准的边界扫描测试控制器。实验结果表明,控制器能够产生符合IEEE 1149.7标准的两线星型信号和四线输出信号。
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USB-1149.1边界扫描控制器的设计与实现
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边界扫描
USB总线
测试总线控制器
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文献信息
篇名 支持IEEE 1149.7标准的边界扫描控制器的设计与研究
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 IEEE 1149.7标准 USB总线 MScan扫描格式 边界扫描控制器
年,卷(期) 2017,(4) 所属期刊栏目 电子与信息器件
研究方向 页码范围 147-150
页数 4页 分类号 TN820.2-34|TN407
字数 语种 中文
DOI 10.16652/j.issn.1004-373x.2017.04.037
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 颜学龙 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 89 330 9.0 12.0
3 陈寿宏 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 37 107 5.0 8.0
9 尹亮亮 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 2 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
IEEE 1149.7标准
USB总线
MScan扫描格式
边界扫描控制器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
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135074
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