基于IEEE 1149．7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究

• 作者: 何正亮 陈寿宏 颜学龙
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: CJTAG标准 JTAG标准 多TAPC结构
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 页码范围: 71-74,79
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

以CJTAG标准和JTAG标准为依据，在深入研究这两个标准的基础上，利用Quartus II开发平台和Ver-ilog HDL语言设计了多TAPC结构，并用 Modelsim进行仿真验证，结果表明多TAPC结构能够有效地对多TAPC芯片进行测试和调试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
3	陈寿宏	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	37	107	5.0	8.0
7	何正亮	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	4	1.0	2.0