基于IEEE 1149.X标准的测试技术研究

• 作者: 姜鹏 沈绪榜
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: IEEE1149.X 边界扫描 测试技术
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 页码范围: 163-165
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.12.043

摘要

IEEE1149标准及其子标准是基于边界扫描的测试技术,它们针对不同的应用环境采用相应的技术标准.它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试.本文讨论了IEEE1149.X中各标准的原理、结构,分析了各项技术的发展及应用,并举例说明了在实际中的测试应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜	西北工业大学计算机学院	23	173	8.0	12.0
2	姜鹏	西北工业大学计算机学院	3	14	3.0	3.0