基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
虽然IEEE1149.1标准的提出及应用很好地解决了集成电路的测试问题,然而该标准在对被测电路进行实时故障诊断时却遇到了瓶颈.针对这一问题,利用并行特征分析器(PSA)及跟踪存储技术设计了一种基于IEEE1149.1标准的测试结构,结构中离线部分主要实现边界扫描基础测试并为在线测试提供控制信号,在线部分主要实现实时故障的诊断.设计采用Verilog语言建模,并用QuartusⅡ软件仿真.仿真结果表明该设计能较好地检测出实时故障.
推荐文章
基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计
IEEE1149.1标准
边界扫描控制器
SOPC
NiosⅡ处理器
全兼容IEEE1149.1的MIPS CPU CORE可测性设计
可测性设计
软硬件协同设计
JTAG
基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法
可重定向
IEEE 1149.1
片上调试
JTAG
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 基于IEEE1149.1标准的在线测试的研究
来源期刊 测控技术 学科 工学
关键词 IEEE1149.1标准 实时故障 并行特征分析器 跟踪存储
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 数据采集与处理
研究方向 页码范围 55-58
页数 4页 分类号 TP206
字数 2345字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 颜学龙 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 89 330 9.0 12.0
2 陈寿宏 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 37 107 5.0 8.0
3 梁吴林 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 2 5 1.0 2.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (5)
共引文献  (6)
参考文献  (7)
节点文献
引证文献  (5)
同被引文献  (16)
二级引证文献  (3)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2005(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2006(3)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(1)
2008(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2009(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2011(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2012(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2015(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2015(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2016(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2017(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2018(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2019(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2020(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
IEEE1149.1标准
实时故障
并行特征分析器
跟踪存储
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测控技术
月刊
1000-8829
11-1764/TB
大16开
北京2351信箱《测控技术》杂志社
82-533
1980
chi
出版文献量(篇)
8430
总下载数(次)
24
总被引数(次)
55628
论文1v1指导