一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构

• 作者: 尹志刚 李华伟 李晓维
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 可测试性设计(DFT),IEEE 1149.1(JTAG)标准,测试
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 23-27
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.05.008

摘要

IEEE 1149.1(也称JTAG)是支持芯片边界扫描的国际标准,提供了统一的测试访问端口.如今,它已成为芯片必不可少的一种"开销".本文通过定制JTAG逻辑,以求用最少的开销,最简单灵活的方式来管理各种DFT逻辑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算技术研究所	55	595	14.0	22.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
3	尹志刚	中国科学院计算技术研究所	4	50	3.0	4.0