IEEE 1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现

• 作者: 朱恒静
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 测试存取口 可测性设计 标准
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 软件可靠性与评测技术
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.01.007

摘要

提出了加强测试存取口(TAP)功能的一种方法,使之可以随两个时钟工作,一个用于控制与IEEE 1149.1标准相兼容的操作;另一个控制器件所固有的可测试特性.这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性.