利用GPS探测电离层异常中的高斯过程处理方法

• 作者: 平劲松 朱文耀 章红平 黄珹
• 来源期刊: 天文学进展
• 学科: 地球科学
• 关键词: 天体测量学 GPS 电离层总电子含量(TEC) 高斯过程 异常探测
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 363-370
• 页数: 8页
• 分类号: P129|P228.4
• 字数: 4223字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8349.2005.04.007

摘要

平静状态下电离层总电子含量(TEC)随时间的变化通常可以视为平稳随机过程.然而,太阳或地球的突发事件(如太阳耀斑、地磁场的扰动)会引起电离层的扰动,破坏该平稳过程,从而引起其统计参数的变化.依据平稳随机过程-高斯过程的相关性质,利用其自协方差函数和TEC时间系列,构建了独立同标准正态分布的观测样本,并利用χ2假设检验的方法来探测电离层异常现象.此外,还利用了2000年7月14日太阳耀斑期间我国国际IGS跟踪站武汉GPS跟踪站的数据,进行了实例分析.结果表明,该方法可以有效地探测电离层异常现象.