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电子产品可靠性与环境试验期刊
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射频系统的系统级封装
射频系统的系统级封装
作者:
刘汉华
郑健
郑学仁
陈国辉
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
系统级封装
射频系统
测试与仿真
摘要:
射频系统级封装是近年发展起来的实现射频电子系统的一种创新技术.对高速数据处理和高密度封装技术的特点及对射频系统封装的特殊要求进行论述,介绍了射频系统封装的基本技术和一种包含LAN、PPA、滤波器、天线开关等的射频系统级封装组件.论述了射频系统级封装的系统设计、仿真、测试的方法和步骤.
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内容分析
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文献信息
篇名
射频系统的系统级封装
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
系统级封装
射频系统
测试与仿真
年,卷(期)
2005,(1)
所属期刊栏目
可靠性设计与工艺控制
研究方向
页码范围
29-33
页数
5页
分类号
TN305.94
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2005.01.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
郑学仁
华南理工大学微电子研究所
72
463
12.0
17.0
2
刘汉华
华南理工大学微电子研究所
15
73
6.0
8.0
3
陈国辉
华南理工大学微电子研究所
8
67
6.0
8.0
4
郑健
广东省电信公司科学技术研究院
1
3
1.0
1.0
传播情况
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版权信息
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二级引证文献(0)
2007(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2009(1)
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二级引证文献(0)
2013(2)
引证文献(0)
二级引证文献(2)
2014(1)
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二级引证文献(1)
2015(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2016(1)
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二级引证文献(1)
2017(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2018(2)
引证文献(1)
二级引证文献(1)
2019(2)
引证文献(0)
二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
系统级封装
射频系统
测试与仿真
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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