软件缺陷的积累放大效应和软件阶段评审

• 作者: 冯宇石
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 软件生存周期 软件缺陷 阶段评审 软件质量
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 质量与可靠性
• 页码范围: 70-74
• 页数: 5页
• 分类号: TP319
• 字数: 4100字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2005.03.020

摘要

以典型事例为例,引出软件缺陷独有特性--软件缺陷经逐阶段积累形成的成倍放大特性,列举了软件生存周期各阶段可能引入的软件缺陷和错误,并对可诱发软件缺陷的原因进行分类.详细叙述软件生存周期为传统的瀑布模型的软件开发过程的阶段划分、阶段产品和阶段评审内容.通过某运费计算程序的开发过程分析,对软件阶段评审的重要性进行说明,提出认清软件缺陷的特性,加强软件开发过程中的各阶段评审,是提高软件质量的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯宇石		2	21	2.0	2.0