红外焦平面非均匀性两点校正法分析及FPGA实现

• 作者: 张天序 江浩洋 王岳环 石岩
• 来源期刊: 激光与红外
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 非均匀性校正 两点校正法 FPGA
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 红外器件
• 页码范围: 100-103
• 页数: 4页
• 分类号: TN215
• 字数: 3648字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5078.2005.02.011

摘要

在分析了IRFPA有效像元的响应系数与两点法校正系数之间的关系后,指出两点法校正系数的取值范围或动态范围.在此基础上提出了一种在确保一定精度同时又尽量节省资源的前提下,将浮点校正运算近似成定点运算的方法,并分析了定点近似与计算精度之间的关系.依据该方法针对实际IRFPA,设计实现了FPGA硬件校正模块.实验表明该方法是有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张天序	华中科技大学图像识别与人工智能研究所	184	3360	30.0	49.0
2	王岳环	华中科技大学图像信息处理与智能控制教育部重点实验室	35	270	9.0	15.0
3	石岩	华中科技大学图像识别与人工智能研究所	14	284	9.0	14.0
4	江浩洋	华中科技大学图像识别与人工智能研究所	5	76	4.0	5.0