一种用于嵌入式内存测试的高效诊断算法

• 作者: 任爱玲 凌明 吴光林 李锐
• 来源期刊: 应用科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 诊断算法 内建自测试 嵌入式内存
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 页码范围: 178-182
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3137字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0255-8297.2005.02.015

摘要

提出了一种具有自诊断功能的位定向MARCH-TB+算法,并在此算法的基础上,用共享型内建自测试电路结构完成了2k×1位嵌入式内存的测试和诊断.实验结果表明,提出的这种测试算法具有较高的故障覆盖率和较强的故障诊断能力,同时兼有测试长度短的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	凌明	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	76	344	10.0	14.0
2	李锐	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	22	121	6.0	10.0
3	吴光林	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	12	130	7.0	11.0
4	任爱玲	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	1	19	1.0	1.0