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摘要:
Nose-to-nose校准技术可以对任意带宽的取样示波器进行自校准.早期的研究工作集中在对关键信号kick-out脉冲的仿真.本文从不同的角度对微波二极管取样头电路进行了全面的仿真,得到了结论:kick-out脉冲是由于在取样电路的不平衡时选通脉冲的泄漏造成的.并对NTN校准技术从仿真实验到物理实验做了介绍.
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文献信息
篇名 Nose-to-Nose校准技术的仿真研究
来源期刊 测试技术学报 学科 工学
关键词 取样示波器 校准 kick-out脉冲 脉冲响应 nose-to-nose
年,卷(期) 2005,(4) 所属期刊栏目 信号处理、算法与仿真
研究方向 页码范围 394-397
页数 4页 分类号 TM935.38
字数 1542字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2005.04.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱苏磊 上海师范大学数理信息学院 18 62 5.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
取样示波器
校准
kick-out脉冲
脉冲响应
nose-to-nose
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
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7
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13975
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