Nose-to-nose校准技术的理论分析

• 作者: 刘明亮 卢峰 朱江淼
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 校准 nose-to-nose kick-out脉冲 宽带取样示波器
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 480-483
• 页数: 4页
• 分类号: TM935
• 字数: 2664字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2005.03.024

摘要

Nose-to-nose校准技术的理论基础是:kick-out脉冲正比于取样示波器系统的冲激响应.Jan verspecht博士和美国国家标准技术研究院(NIST)用S参数法对此进行了详尽的分析.本文从电路理论分析入手,对kick-out脉冲产生的机理重新进行了分析,得出了十分有用的数学表达式和结论:kick-out 脉冲不仅与电路参数有关,而且与选通脉冲有关.这一结论并被计算机的仿真所证实,这用以前的理论是无法解释的.可以说本文结论进一步完善了NTN校准技术的理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘明亮	北京工业大学电子信息与控制工程学院	36	327	9.0	16.0
2	朱江淼	北京工业大学电子信息与控制工程学院	53	309	9.0	14.0
3	卢峰	北京工业大学电子信息与控制工程学院	3	24	3.0	3.0