基于单幅测量图像的三维缺陷检测技术

• 作者: 叶声华 周兴林 宋丽梅 徐可欣 曲兴华
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学测量 三维光学缺陷检测 基于阴影恢复形貌 灰度 倾角 偏角
• 年，卷（期）: 2005,（9）
• 所属期刊栏目: 仪器、测量与计量
• 页码范围: 1195-1200
• 页数: 6页
• 分类号: O438
• 字数: 3087字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2005.09.010

摘要

为了对缺陷进行更加全面的判断,设计了一种新型三维缺陷检测方法,只需要根据单幅实时测量的工件图像,就可获得0°～180°范围内工件形貌的三维数据,进而对缺陷的平面及深度尺寸进行全面判断.其核心技术是根据单幅测量图像中留下的三维线索-灰度信息,进行亮度分析和转换,利用倾角和偏角计算物体深度信息.在工业现场磁性材料缺陷检测中,该方法在X和Y方向的分辨力达到0.1 mm,Z方向的分辨力达到0.007 mm.实验证明所使用的三维缺陷检测方法,工作方式简单,硬件成本低,处理速度快,精度高,适宜在工业现场应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐可欣	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	194	2590	26.0	39.0
2	叶声华	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	292	6282	40.0	63.0
3	宋丽梅	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	20	170	7.0	12.0
4	曲兴华	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	131	1717	25.0	35.0
5	周兴林	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	4	70	4.0	4.0