圆形标志中心子像素定位方法的研究与实现

• 作者: 黄桂平
• 来源期刊: 武汉大学学报（信息科学版）
• 学科: 地球科学
• 关键词: 图像测量 回光标志 边缘检测 亚像素 椭圆拟合
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 388-391
• 页数: 4页
• 分类号: P249
• 字数: 2687字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-8860.2005.05.003

摘要

采用回光反射材料制作圆形回光反射标志,经摄影后得到标志的"准二值影像";对标志的椭圆影像进行亚像素边缘提取,经最小二乘椭圆拟合后得到标志中心的子像素级位置.试验表明,可以达到0.02像素的定位精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄桂平	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	27	474	11.0	21.0