利用受激发射损耗(STED)显微术突破远场衍射极限

• 作者: 刘力 王桂英 肖繁荣 陈文霞
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 工学
• 关键词: 分辨率 衍射极限 受激发射损耗 时间特性 空间特性
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 光电子器件与技术
• 页码范围: 51-56
• 页数: 6页
• 分类号: TN2
• 字数: 3811字
• 语种: 中文

摘要

远场光学显微镜受衍射极限分辨率的限制,而近场光学显微镜由于缺乏层析能力,则无法实现超分辨的三维成像.研究了既可突破远场光学显微术的衍射极限分辨率又可实现三维成像的成像技术--受激发射损耗(STED),综述了STED的分辨率与STED光的光强、延迟时间、光斑空间分布等主要参数的关系,以及该技术的最新进展和应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘力	中国科学院上海光学精密机械研究所	97	883	17.0	24.0
2	王桂英	中国科学院上海光学精密机械研究所	40	544	14.0	21.0
3	肖繁荣	中国科学院上海光学精密机械研究所	9	102	7.0	9.0
4	陈文霞	中国科学院上海光学精密机械研究所	3	55	3.0	3.0