用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

• 作者: 汪昱 邝继顺
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 测试生成 自动控制单元 瞬态电流测试
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 硬件测试
• 页码范围: 29-30,59
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2292字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2005.04.011

摘要

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对.内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销.本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的BIST模块.实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学计算机与通信学院	82	418	11.0	16.0
2	汪昱	湖南大学计算机与通信学院	1	9	1.0	1.0